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表面铜厚测量仪- CMI563
日立分析仪器CMI563表面铜厚测量仪是一款灵便易用的手持式测厚仪,它集快速精确、价格合理、 质量可靠等优势于一体,专为测量刚性及柔性、单层、双层或多层印刷电路板上的表面铜箔厚度设计。
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Orion Dual Star 铜离子测量仪
)×22.4 cm(长) D10P-29 Dual Star铜离子测量仪 • Dual Star双通道pH/离子浓度测量仪 • 9629BNWP铜离子复合电极 • 927007MD温度电极
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Orion Dual Star 铜离子测量仪
) 电源:4×AA 电池,通用的电源适配器 外形尺寸:9.4 cm(高)×17.0 cm(宽)×22.4 cm(长) D10P-29 Dual Star铜离子测量仪 • Dual
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膜厚测量仪FE-300
膜厚量测仪FE-300的特点测试范围涵盖薄膜到厚膜基于绝对反射率光谱分析膜厚小型・低价,精度高无复杂设定,操作简单,短时间内即可上手外观新颖,操作性提高非线性*小二乘法,实现光学常数解析(n:折射率
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膜厚测量仪FE-3
膜厚量测仪FE-3的特点使用分光干涉法原理配置高精度FFT膜厚分析引擎(专利 第4834847号)可通过光纤灵活构筑测量系统可嵌入各种制造设备可实时测量膜厚支持远程遥控,多点测量采用长使用寿命,高
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安东帕SurPASS固体表面ZETA电位测量仪
仪器简介: 仪器名称:ZETA电位分析仪 研究对象:纤维、薄膜、粉末、粒子、固体金属或非金属片等材料。 主要用途:测量材料的表面电荷,了解材料表面上的电荷状况,研究材料
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F50 光学膜厚测量仪
F50薄膜厚度测量仪自动化薄膜厚度绘图系统依靠F50先进的光谱测量系统,可以很简单快速地获得大直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台,可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度
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RadEye B20便携式α/β表面污染测量仪
用于测量α,β,γ,X辐射。加窗后,可以测量17KeV-3MeV的γ辐射,还可以区分α,β辐射。多种操作模式,9g氧化镥(50Bq/g,1.4nCi/g)刻度源。 探测器:GM计数管,窗直径44mm
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RadEye AB100便携式α/β表面辐射污染测量仪
RadEye AB100便携式α/β表面污染测量仪采用涂锌塑料闪烁体探测器,灵敏面积高达2500px2。多种操作模式,功耗低,NiMH电池可持续使用1000小时。 端窗:0.87 mg/cm2,覆铝
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反射式膜厚测量仪FE-3000
反射式膜厚量测仪的产品特点完美对应紫外到近红外(190~1600nm)广波长范围。利用高分辨率传感器,可对应厚膜以及超厚膜样品类型:0.8~1mm利用非线性*小二乘法薄膜解析软件,可解析多层薄膜的膜
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